EN
產品中心
更多產品 >>
在線式X射線熒光分析儀 XMS
XMS是一款適用于工業自動化的在線式X射線熒光分析儀，具有快速數據采集和分析能力，能夠幫助制造商優化工藝流程和提供產品質量。
手持式X熒光光譜儀
能夠快速而準確的完成元素定性/定量分析，適用于多種環境，包括合金分析、PMI材質分析，礦石成分分析、土壤重金屬檢測、RoHS 2.0檢測，鍍層測厚、化肥和動物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各行.....
布魯克 科研級手持式XRF分析儀 TRACER 5g
更高精度、更多元素檢測范圍，可測到氟元素的科研級手持式XRF光譜儀
微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
微區X射線熒光成像光譜儀PLUS
M4 TORNADO PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。
便攜臺式xrf分析儀
便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行現場檢測,但是,當需要對樣品進行預備時;當樣品為粉末,固體和液體等形態,存放在容器中時;當需要較長時間的檢測.....
新品發布 - 布魯克 探針式輪廓儀/臺階儀 Dektak Pro
Dektak Pro是布魯克新發布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀，基于第十一代Dektak?系統，具有4 ?重復性的優異表現，并提供200毫米平臺選項
布魯克 三維光學輪廓儀 ContourX-200
ContourX系列中的高效能白光干涉儀，配備自動XYZ樣品臺、查找表面功能、拼接及大范圍成像功能。
布魯克 三維光學輪廓儀 ContourX-1000
布魯克白光干涉儀，適用于研究和生產的自校準、具備全自動解決方案的三維光學輪廓系統
布魯克 探針式輪廓儀/臺階儀
能夠實現嚴苛的納米水平表面測量，提供更高的重復性和分辨率，不論是性能、易用性還是價格都更具有競爭力的探針式輪廓儀
布魯克 探針式輪廓儀系統 / 臺階儀系統 Dektak XTL
一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規格晶圓和面板制造領域、QC（質量控制）/QA（質量保證）的探針式輪廓儀系統
布魯克 原子力顯微鏡/AFM Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學輪廓儀特性：業界標桿，大視場下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實現不同面型和織構表面的表征；硬件的優化設計進一步的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM128系列設備，裝備有光學掃描系統。
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試系統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性能和穩定性特性
硅片表面形貌測量
硅片表面形貌測量,材料表面形貌分析
晶圓厚度測量系統
FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）干涉測量技術。
I-V 曲線測試儀
PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案
電荷靈敏前置放大器
CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位模式運行。
原子力顯微鏡探針/AFM探針
布魯克AFM探針具有多種款式和型號，能夠滿足多種應用領域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案。
檢測服務 - 介紹
承接成分分析、大面積元素分析成像、 材料表面形貌分析等檢測服務
行業應用
更多應用 >>
快速材料成份分析
合金，貴金屬，混凝土，鍍層，地質礦石勘探分析，土壤檢測，油品分析，食品安全檢測，化妝品成分檢測等
野外現場分析測試
合金，貴金屬檢測，RoHs篩選，油品，三元催化，石灰石，土壤固廢，環境檢測，礦石勘探，藝術考古等
材料成份分析（定性/定量）
冶金，鑄造/鍛造，汽車配件，廢舊金屬回收，機械制造，第三方檢測機構，鐵路/船舶，材料鑒定，材料成分檢測技術文章
更多文章>>微束XRF技術分析食品污染物與營養成分
2025-09-16直讀光譜儀：驅動新能源汽車關鍵部件的高質效“元素守門人”
2025-08-18應用分享 | 布魯克手持式光譜儀在地礦領域的應用
2025-07-31微束大面積元素成像光譜儀解密羅馬劍：M4 TORNADO重現日耳曼戰士的獻祭之刃
2025-07-14精準高效，品質護航：便攜式熒光光譜儀助力化妝品重金屬快檢
2025-07-02測氟難？TRACER 5G手持XRF破局！
2025-06-13書中真的有黃金！ - 浙江大學圖書館館藏古籍顏料檢測報告
2025-05-30應用分享丨全反射X射線光譜儀檢測大米中砷元素的含量
2025-04-2530秒極速檢測！Bruker Q2 ION光譜儀：中小企業金屬分析專家
2025-03-07當藝術邂逅科技丨揭秘19世紀水彩復制品的色彩之謎
2025-02-14新聞資訊
更多新聞>>
會議邀請 | 成都電子科技大學布魯克微區X射線熒光成像光譜儀技術及應用分享
2025-05-14
2025年5月20日 周二 10：00 地址：成電國際創新中心C棟403（分析測試中心）
會議邀請 | 成都電子科技大學布魯克微區X射線熒光成像光譜儀技術及應用分享
2025-05-14守護文明密碼:古籍無損分析革命 | 微區XRF與高光譜成像聯用技術網絡研討會
2025-04-11攜手同行，定義“芯”高度丨鉑悅儀器邀請您一同參與Semicon China 2025
2025-03-18置換活動 | 光譜儀以舊換新 不限品牌 不限型號
2024-10-17新品上市 | 布魯克推出先進的臺式探針式輪廓儀---新型Dektak Pro
2024-09-30會議邀請 | 河北農業大學布魯克全反射TXRF技術與應用交流會
2024-07-24會議邀請 | 河北農業大學布魯克微區X射線熒光成像光譜儀技術及應用分享
2024-07-012024年Bruker Tracer用戶培訓會順利舉辦
2024-04-18Semicon｜鉑悅儀器邀請您一同參與Semicon China 2024
2024-03-19限時限量 | 鉑悅儀器二十周年大促（已結束）
2023-10-24電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh_com.tianya-wz.com
地址：上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室
視頻號
滬公網安備 31011702008990號
